实验室管理办公室:电话:020-87236263,020-87234661传真:020-87237017失效机理及数量模型研究室电话:020-37231385失效分析新技术研究室电话:020-87237725可靠性试验与评估技术研究室电话:020-87239857可靠性设计研究室电话:020-87237897地址:广州市天河区东莞庄路110号301楼
包括两维和三维X射线显微系统(3D-Xray)、声学扫描显微镜(SAM)等。可对封装级元器件及板级电路的结构进行无损检测分析。X射线系统三维结构极限分辨率为1μm;声学扫描显微的X/Y扫描精度:0.1μm。
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