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电子元器件失效分析技术与经典案例培训在深圳顺利举办

  • 2017-06-22
  • 来源:分析中心
  • 供稿人:肖远青
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2017年6月16日至17日,由我所分析中心举办的电子元器件失效分析技术与经典案例高级研修班在深圳举办。共有来自中兴、创维、TCL、中广核、国微等30余家企业报名参加了培训。

此次培训由分析中心总工、副主任李少平主讲,李主任30多年来为核电、通讯、家电及军工等众多标杆企业提供过元器件失效分析、板级产品故障原因分析和元器件及小型整机的可靠性评估等可靠性工作,是国内电子元器件失效分析和可靠性领域的权威专家。通过李主任详实的理论讲解和近百个精彩的案例解析,分享了我所几十年来在失效分析中积累的宝贵经验,培训内容紧密结合企业的实际需求,具有很强的针对性和指导性。在交流互动环节及休息过程中,很多参训学员就日常工作中遇到的元器件失效和管控问题积极与讲师进行了热烈的讨论,部分学员甚至带了失效样品来现场交流,李主任对每一位学员的提问都作了细致的讲解,现场反应非常热烈。

本次培训帮助参训学员建立并熟悉了电子元器件可靠性、失效分析、失效模式、失效机理等概念,熟悉了电子元器件常见失效模式与失效机理,建立了不同门类元器件的失效分析思路和方法,为企业开展可靠性设计、物料管控、故障分析、生产制造以及安装运维等产品全寿命周期的可靠性工作打下了基础。同时也提高了我所分析中心的行业知名度,此次培训取得了圆满成功!