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重点实验室召开元器件质量相关技术研讨会

  • 2015-03-27
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为推广重点实验室在元器件质量归零、失效预防、故障预测与健康管理(PHM)方面的研究成果,2015年3月13日,由重点实验室牵头组织的“元器件质量归零分析及失效预防技术研讨会”在所内召开,参加会议的有中国电子科技集团、中国船舶重工集团、中国航天科工集团、中国航天科技集团、中国振华电子集团、中国科学院等50余家科研院所代表近100人,以及我所分析中心、元器件检测中心、数据中心等部门技术人员。
围绕针对质量归零的元器件FTA分析技术、元器件FMEA分析技术、元器件失效分析及预防技术和故障预测与健康管理(PHM)技术四大专题,重点实验室何小琦研究员、陈媛高工、林晓玲博士和陆裕东博士分别进行了大会主题报告,并现场演示了相关工具软件的应用和案例分析。如针对混合集成电路进行FTA分析;利用元器件FMEA应用软件进行元器件失效案例的录入和查询;通过IC失效分析专家系统指导生产/使用过程中失效集成电路进行失效分析并得出分析结论;基于故障预测与健康管理系统为生产和使用单位提供PHM研制工具支撑和针对具体产品的PHM专业工具开发等。
会上就参加单位在工程应用过程可能碰到的一些实际技术问题展开讨论,特别是生产和使用单位遇到的由元器件引起的产品可靠性问题。这次研讨会是重点实验室加强成果转化、成果推广的工作内容之一,随着更多研究成果逐步完善和成熟,重点实验室将进一步加大成果推广,并与所内部门合作,引领相关行业技术发展。 (郝立超供稿)                              
(重点实验室)