重点实验室王力纬、方文啸两位在站博士后，作为我所博士后科研工作站于2009年分别与华南理工大学、中山大学联合招收培养的博士后科研人员，经过2年多的研究工作，目前均已完成预期的研究计划，并于2011年12月26日顺利通过出站答辩。
在答辩会上，王力纬博士汇报了有关“数字IP软核质量与可靠性评测技术研究”的工作完成情况。该部分工作以集成电路数字IP软核为研究对象，开展其质量与可靠性的评测技术研究，解决“如何量化评价数字IP软核的质量与可靠性”这一难题。到目前为止，该项研究工作已经取得了多项研究成果，包括设计实现了相关评测工具软件，并申请了软件著作权登记等。这些成果填补了我所在该研究领域的空白，将使我所新增对IP软核质量与可靠性的评测能力，可为集成电路IP核的用户提供相关服务。
方文啸博士汇报了有关“MEMS器件可靠性研究”的工作完成情况。MEMS可靠性是MEMS器件进入实用化前十分关键的环节，该部分工作以MEMS传声器件(麦克风)以及MEMS显示器件这两种板状机电结构为对象，进行了MEMS仿真建模以及机械可靠性试验技术方面的研究，此外也研究了工艺中粗糙面对MEMS机械性能的影响，这些工作为我所MEMS项目以及业务的进一步开展将起到相当积极的推动作用。
汇报完毕后，两位博士后还回答了答辩专家组提出的相关问题。最后经专家组认真讨论，一致认为这两位同志已顺利完成博士后在站期间的科研任务，对其科研工作报告予以通过。
至此，我所博士后科研工作站自2006年经国家人事部批准设立以来，已有3位博士后科研人员顺利出站，为我国可靠性技术的提高和可靠性高级人才的培养提供了平台。
（重点实验室、人力资源处）
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