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2022年8月23日，国际电气电子工程师学会电子器件广州分会（IEEE EDS广州分会）成功举办了第二十三届国际学术研讨会，本次会议采用“线上直播+线下会议”相结合的方式进行，由我所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室和IEEE EDS联合主办，所科技委协办。来自香港城市大学、中山大学、华南理工大学、西安电子科技大学、广东工业大学、湘潭大学、电子五所等单位的研究学者和工程师参加了此次会议。

本次研讨会由IEEE EDS广州分会主席、所总工程师、研究员恩云飞组织召开，会议方邀请香港城市大学的王曦教授和中山大学柳月波博士作微电子前沿技术的发展报告。专家们分别从CMOS器件小型化及其工艺的极限和半通孔结构多沟道AlGaN/GaN肖特基二极管特性研究两个前沿方向作了系统性的介绍，参会者进行了热烈的讨论和交流。

IEEE EDS广州分会为我所科研人员提供了一个良好的交流与合作平台，促进我所在国际上微电子器件可靠性研究领域的知名度和影响力不断提升。