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国际电气电子工程师学会电子器件广州分会第二十二届国际学术研讨会顺利召开

  • 2022-08-02
  • 来源:重点实验室
  • 供稿人:王磊
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2022年7月29日,国际电气电子工程师学会电子器件广州分会(IEEE EDS广州分会)成功举办了第二十二届国际学术研讨会,本次会议采用“线上直播+线下会议”相结合的方式进行,由我所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室和IEEE EDS联合主办,所科技委协办。来自台湾长庚大学、香港科技大学、香港大学、中山大学、华南理工大学、西安电子科技大学、广东工业大学、湘潭大学、电子五所等单位的近百名研究学者和工程师参加了此次会议。

本次研讨会由IEEE EDS广州分会主席、所总工程师、研究员恩云飞组织召开,会议方邀请3名IEEE EDS杰出讲师和1名 IEEE 会员作微电子前沿技术的发展报告。专家们分别从超越铜和低k电介质的CMOS互连技术、用于视网膜启发机器视觉的传感器设计、有限元分析在产品可靠性中的应用研究以及16 nm FinFET在超高电离剂量下的辐射效应和性能退化机制研究四个前沿方向作了系统性的介绍,参会者进行了热烈的讨论和交流。

IEEE EDS广州分会为我所科研人员提供了一个良好的交流与合作平台,促进我所在国际上微电子器件可靠性研究领域的知名度和影响力不断提升。

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