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基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组2018年度会议在西南分所召开

  • 2018-12-21
  • 来源:西南分所
  • 供稿人:朱雪恒
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12月14日,基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组(以下简称标准工作组)2018年度会议在西南分所召开。本次会议由我所元器件中心和西南分所主办。来自工业和信息化部科技司、航天一院、航天五院、西安电子科技大学、中国电力科学研究院以及中电44所、55所等十余家国内元器件行业知名研制厂所等20多位领导和专家参加了会议。标准工作组组长韩俊、我所副所长王勇、元器件中心和西南分所的相关领导出席了本次会议。会议由标准工作组秘书长、元器件中心副主任罗宏伟主持。

王勇副所长在会上致辞时表示,标准研制工作由电子元器件行业代表单位共同参与,形成的方法成果也将为行业各单位所共享,为各单位产品的质量管控和品质提升提供技术支持,从而促进我国电子元器件行业质量的整体提升。评价方法既有实际效果,也有广阔的应用前景。

会上,项目单位汇报了基于低频噪声的电子元器件可靠性无损检测和筛选方法通用要求,商定了基于低频噪声的光电耦合器件可靠性无损检测和筛选方法的草案,并同时总结了在电子元器件低频噪声测试方法应用和利用低频噪声进行元器件可靠性筛选和评价方面取得的案例成果。参会专家针对方法的需求背景、国内外现状、研究内容、技术方案等进行质询和研讨,并提出了意见和建议。

最后,对于形成的方法和案例成果,参会专家建议项目单位选取更多典型代表元器件,继续开展方法的应用验证工作,进一步完善细化方法,使其更具指导性。参会专家就下一阶段工作任务达成共识,在各成员单位的共同努力下,在基于低频噪声的电子元器件可靠性评价方法标准研制方面取得更大的成果,持续推动我国电子元器件可靠性无损检测技术标准的发展和行业应用,为我国电子元器件行业的品质提升作出应有的贡献。