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根据中国电子学会《关于同意可靠性分会标准立项申请的函》, 可靠性分会组织相关标准工作组完成了《模型驱动的质量特性协同设计》等16项标准的征求意见稿及编制说明,现公开征求意见。
请对该16项标准征求意见稿提出意见和建议,填写《标准意见回执单》(见附件), 于2022年9月25日前反馈可靠性分会秘书处。
联系人:刘东方 020-87236608(传真),13332820801(微信同号);电子邮箱:1240537146@qq.com。
致礼!
附件 1: 中国电子学会团体标准征求意见稿清单
序号 | 标准名称 | 计划号 |
1 | 模型驱动的质量特性协同设计 | JH/CIE 179-2021 |
2 | 数据驱动的质量特性协同设计 | JH/CIE 180-2021 |
3 | 民机航空电子系统故障智能诊断与维修测试技术规范 | JH/CIE 181-2021 |
4 | 面向复杂装备运行维护需求的故障预测 | JH/CIE 182-2021 |
5 | 面向复杂装备运行维护需求的预测性维护 | JH/CIE 183-2021 |
6 | 基于模型的系统可靠性分析指南 | JH/CIE 186-2021 |
7 | 复杂组件封装可靠性仿真评价方法 | JH/CIE 187-2021 |
8 | 空间行波管加速寿命试验评估技术规范 | |
9
| 辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测量方法 | JH/CIE 204-2021 |
10 | 微机电器件(MEMS)圆片键合可靠性评价方法
| JH/CIE 205-2021 |
11 | 半导体器件可靠性强化试验方法
| JH/CIE 203-2021 |
12 | 组变存储单元电学测试规范
| JH/CIE 207-2021 |
13 | 霍尔推力器加速寿命试验规范
| JH/CIE 208-2021 |
14 | 霍尔电推进系统点火测试规范
| JH/CIE 209-2021 |
15 | 现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范
| JH/CIE 210-2021 |
16 | 现场可编程门阵列(FPGA)芯片可靠性动态老化试验规范
| JH/CIE 211-2021 |
附件-1: 中国电子学会团体标准征求意见稿清单
附件-2: 中国电子学会团体标准征求意见稿及编制说明
附件-3: 标准意见回执单
附件 1.中国电子学会标准征求意见稿、2.编制说明 及3.意见回执表.zip
中国电子学会可靠性分会
2022年 8 月 23 日
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