快速搜索

业务联系

实验室管理办公室:
电话:020-87236263,020-87234661
传真:020-87237017
失效机理及数量模型研究室
电话:020-37231385
失效分析新技术研究室
电话:020-87237725
可靠性试验与评估技术研究室
电话:020-87239857
可靠性设计研究室
电话:020-87237897
地址:广州市天河区东莞庄路110号301楼

—封装级微观结构无损检测分析平台


包括两维和三维X射线显微系统(3D-Xray)、声学扫描显微镜(SAM)等。可对封装级元器件及板级电路的结构进行无损检测分析。X射线系统三维结构极限分辨率为1μm;声学扫描显微的X/Y扫描精度:0.1μm。